GE分析儀器歷來重視研發(fā)，并樂意投資開發(fā)新產(chǎn)品與新技術(shù)。至今我們已經(jīng)擁有超過30個創(chuàng)新技術(shù)專利。其中，Sievers總有機(jī)碳（TOC）薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)，可謂GE TOC分析儀的王牌技術(shù)。

以下介紹可以讓您充分了解“Sievers 薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)”到底是怎么回事？

Sievers 薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)用于檢測總有機(jī)碳（TOC）含量，并被證明為十分精準(zhǔn)可靠的檢測方法。不同于非分散紅外檢測（NDIR，non-dispersive infrared）技術(shù)，Sievers 薄膜電導(dǎo)率檢測法能顯示六個數(shù)量級的動態(tài)范圍，可以防止隨時間的明顯數(shù)據(jù)漂移，從而極具穩(wěn)定性。因此使用薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)，設(shè)備無需頻繁校準(zhǔn)，所得到的檢測結(jié)果十分穩(wěn)定，具有不可比擬的分析性能，能成為用戶在日常工作中依賴的主要工具。

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工作原理

Sievers薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)使用了選擇性氣體滲透薄膜，只有氧化產(chǎn)生的CO2能通過這層薄膜進(jìn)入檢測艙。當(dāng)水中有機(jī)物分子含有除碳、氫、氧以外的元素，如氮、硫、磷、鹵素等，在氧化時會生成相應(yīng)的離子，如硝酸根、氯離子等，干擾直接電導(dǎo)率檢測。因此相比直接電導(dǎo)率法，Sievers薄膜電導(dǎo)率檢測法減少了檢測中的“假正”或“假負(fù)”現(xiàn)象，提供了無比優(yōu)異的選擇性、靈敏度、穩(wěn)定性、精確度和準(zhǔn)確度。

下列動畫，可以讓您清楚了解Sievers薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)的工作原理。

（如看不清楚視頻，建議登陸 查看，并在觀看時將清晰度調(diào)整為超清。）

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相關(guān)儀器

GE Sievers M9實(shí)驗(yàn)室型/在線型/便攜式、M5310 C實(shí)驗(yàn)室型/在線型/便攜式，500RL在線型和860實(shí)驗(yàn)室型TOC分析儀均采用Sievers薄膜電導(dǎo)率檢測技術(shù)。

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