儀器信息網(wǎng)訊 2016年9月28-29日，由布魯克納米分析部舉辦的2016年全國(guó)用戶交流會(huì)在北京美麗的古北水鎮(zhèn)召開。近50名來(lái)自全國(guó)的布魯克納米分析儀器用戶專家代表參加了此次交流會(huì)。

布魯克納米分析部中國(guó)區(qū)經(jīng)理李慧 主持會(huì)議

布魯克納米分析部德國(guó)產(chǎn)品總監(jiān) Andreas Kahl致開幕詞

　　本次交流會(huì)旨在推動(dòng)EDS、EBSD、Micro-XRF技術(shù)及電子顯微學(xué)的進(jìn)步和發(fā)展、提高廣大顯微學(xué)工作者的學(xué)術(shù)及技術(shù)水平，以促進(jìn)顯微學(xué)在材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用和發(fā)展。交流會(huì)分為大會(huì)報(bào)告和分組討論交流兩個(gè)部分。大會(huì)報(bào)告上用戶專家及布魯克應(yīng)用專家們?yōu)榇蠹規(guī)?lái)9個(gè)精彩報(bào)告，內(nèi)容涉及能譜分析、EDS定量、微區(qū)XRF、EBSD、TKD等納米分析的前沿技術(shù)。大會(huì)現(xiàn)場(chǎng)大家積極交流互動(dòng)，展現(xiàn)出一派活躍的學(xué)術(shù)交流氛圍。

交流會(huì)現(xiàn)場(chǎng)

布魯克德國(guó)應(yīng)用專家 Max Patzschke

報(bào)告題目：低電壓低束流電鏡條件下能譜分析方法及應(yīng)用

　　作為布魯克的創(chuàng)新產(chǎn)品，平插式能譜儀可以在保留高能量分辨率的同時(shí)提供超高計(jì)數(shù)率和空間分辨率。Max在介紹此款能譜儀時(shí)，特別強(qiáng)調(diào)了其XFlash探測(cè)器，該探測(cè)器不僅可以提供很高的固體角(1.1sr)，還可以在低束流、低電壓、更小激發(fā)體積條件下對(duì)納米尺度材料樣品進(jìn)行精確分析。接著，Max分別以高聚物、隕石、宇宙飛船收集彗星粉塵試樣等樣品的能譜分析為例，闡述了平插式能譜儀的面掃描面積大、掃描速度快、粗糙樣品掃描不產(chǎn)生陰影等優(yōu)異性能。

布魯克亞太區(qū)產(chǎn)品應(yīng)用經(jīng)理 王銳

報(bào)告題目：EDS定量方法原理解讀及應(yīng)用

　　王銳經(jīng)理首先為大家科普了X射線的產(chǎn)生原理及EDS定量理論模型，接著結(jié)合實(shí)際樣品分析情況講解了P/B ZAF(建議粗糙、無(wú)標(biāo)樣情況適使用)和PhiRHoZ model(建議輕量元素、表面平整有標(biāo)樣情況使用)兩種常用定量方法。最后針對(duì)定量過(guò)程中出現(xiàn)的樣品充電、樣品粗糙、C定量等問(wèn)題依次做了原因分析，并給出對(duì)應(yīng)解決方案。

布魯克中國(guó)應(yīng)用專家 禹寶軍

報(bào)告題目：痕量元素的分析方法-掃描電鏡用Micro-XRF技術(shù)介紹

　　禹寶軍通過(guò)與EDS對(duì)比，介紹了掃描電鏡用Micro-XRF很高激發(fā)深度等優(yōu)越特性。接著講解了Micro-XRF在地質(zhì)、礦物、玻璃、金屬等樣品分析中的應(yīng)用，結(jié)果表明Micro-XRF具有不干擾SEM操作、分析結(jié)果可媲美臺(tái)式XRF等特點(diǎn)。

中科院地質(zhì)與地球物理研究所 楊繼進(jìn)教授

報(bào)告題目：能譜在石油地質(zhì)研究中的新應(yīng)用

　　楊繼進(jìn)教授首先以PM2.5污染為背景，分析了能譜在石油地質(zhì)領(lǐng)域研究的重要意義。接著介紹了礦物分析-掃描電鏡類儀器的選型和參數(shù)情況，包括能譜儀效率、分辨率、分析軟件系統(tǒng)等。最后講解了他們實(shí)驗(yàn)室使用布魯克能譜儀在大面積礦物質(zhì)成分、樣品中特定礦物分布、油氣儲(chǔ)層研究等方面的應(yīng)用情況。

中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 曾毅研究員

報(bào)告題目：EBSD空間分辨率的研究

　　透射模式電子背散射電子衍射可以顯著提高掃描電鏡進(jìn)行相鑒定和取向分析的空間分辨率，是2012年以后出現(xiàn)的新技術(shù)。針對(duì)目前TKD空間分辨率僅有定性描述，無(wú)法定量給出數(shù)據(jù)的情況。曾毅研究員創(chuàng)新地采用圖像關(guān)聯(lián)技術(shù)對(duì)原始菊池線衍射花樣進(jìn)行逐點(diǎn)提取比較，從而將花樣重疊情況進(jìn)行量化分析，給出了鋼鐵材料在30kV下的TKD理論分辨率為7nm。這也是對(duì)TKD空間分辨率的首次報(bào)道，相關(guān)結(jié)果發(fā)表在Journal of Microscopy，264(1), 2016, 34-40上。

布魯克德國(guó)產(chǎn)品經(jīng)理 Daniel Goran

報(bào)告1題目：EBSD技術(shù)的最新應(yīng)用進(jìn)展

報(bào)告2題目：最新TKD技術(shù)的發(fā)展及在納米晶樣品分析中的應(yīng)用

　　Daniel主要介紹了EBSD在樣品相鑒定領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)，并以換熱器鋼管樣品的相鑒定分析為例，講解了EBSD配套軟件ESPRIT2.1在數(shù)據(jù)處理過(guò)程中表現(xiàn)出的快捷、大大縮減SEM掃描時(shí)間等優(yōu)秀性能。

　　接著Daniel還與大家分享了TKD的最新技術(shù)，其中尤其強(qiáng)調(diào)了on-axis探測(cè)器，該探測(cè)器系統(tǒng)可以為TKD提供高檢測(cè)信號(hào)強(qiáng)度、快達(dá)620fps的測(cè)量速度等優(yōu)秀性能。

布魯克亞洲區(qū)售后服務(wù)經(jīng)理 Joo Hsiang Chua

報(bào)告題目：BNA維修部介紹及售后服務(wù)講解

　　Joo首先向大家介紹了布魯克納米分析部的全球業(yè)務(wù)分布及組織框架，隨后從售后維修配套、維修配套傳單、售后技術(shù)支持等方面具體講解了布魯克納米分析部的完善售后服務(wù)體系。

布魯克中國(guó)應(yīng)用專家 嚴(yán)祁祺

報(bào)告題目：痕量元素及深度檢測(cè)方法介紹-臺(tái)式Micro-XRF技術(shù)應(yīng)用

　　與傳統(tǒng)XRF的相比，微區(qū)XRF具有X射線穿透能力強(qiáng)、可實(shí)現(xiàn)大塊樣品快速掃描、無(wú)需樣品制備等優(yōu)點(diǎn)。嚴(yán)祁祺報(bào)告中主要介紹了布魯克微區(qū)XRF系列產(chǎn)品M1、M2、M4等在地質(zhì)薄片、樹葉元素分析、昆蟲、金屬材料、考古等領(lǐng)域的具體應(yīng)用實(shí)例。

參會(huì)人員合影留念

　　會(huì)上儀器信息網(wǎng)編輯發(fā)現(xiàn)，布魯克應(yīng)用專家和高層們都分散和用戶們坐在了一起，以便更好的與用戶的交流，相信如此重視聆聽(tīng)客戶、注重細(xì)節(jié)的布魯克納米分析部的發(fā)展必將指日可待。