熔合物澆注的熔合物顯微結構變化研究金相顯微鏡

  熔合物的研究采用金相X 射線分析和顯微硬度測量的方法研究熔合物的相組成
與結構X 射線系采用粉末照象法，鎳靶，晶格參數測量的精確度為0.01% ，顯微硬
度是在型儀器上測定的，荷重50克。
  顯微硬度的數值用以估計各個相組分與結構組分的硬度，以及用以測定熔合物
的均化程度與確定單相區(qū)域的邊界。
  試驗熔合物的熔制是按上述條件于1600-1700 ℃下進行的，在最高溫度時短時
間保溫。
  熔合物經過擴散退火，在TBB-2 型爐中氬氣氛下1350℃退火48小時。
  當澆注的熔合物退火時末觀察到顯微結構有明顯的變化。
  為了顯露熔合物磨光片的顯微結構，在20%KOH溶液中電解腐蝕。
  金相研究指出，碳含量在0.7%以下的熔合物是單相的，這個區(qū)域的熔合物為粗
粒結構，如果注意到現(xiàn)熔融的純硅以及單相區(qū)域的熔合物，當腐蝕時出現(xiàn)平行線的
那種獨特顯微結構，顯然這與硅的晶體結構的特征相聯(lián)系的。
  碳含量高于0.8%的熔合物具有兩相的結構；明亮的基底是碳地硅中的固溶體，
暗色者是碳化硅。
  碳含量增加時碳化物相的數量隨著增加，單相區(qū)域熔合物固溶體顯微硬度隨碳
含量增加而顯著上升，易從850-890 公斤/ 毫達到1225公斤毫米，在兩相區(qū)域的范
圍內，碳含量在2-3%以下改變時，相的顯微硬度實際上并不隨之變化。
  碳化硅晶體的顯微硬度的平均值為3180公斤/ 毫米。
  分布在相圖區(qū)域內的熔合物的X 射線研究指出，有兩個相存在，基于硅的相和
基于碳化硅的相同，這兩相的晶格參數末發(fā)現(xiàn)變化，因為得到的數據均在測量精確
度的范圍以內。
  金相與X 射線分析以及各個相的顯微硬度測量結果。

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