12月7日上午，布魯克納米表面儀器部應(yīng)用專家孫昊博士在中山大學(xué)進(jìn)行了力學(xué)測量技術(shù)的新進(jìn)展和峰值力掃描電化學(xué)顯微鏡專題講座。中山大學(xué)的原子力顯微鏡用戶參加了此次講座。

專題講座主要介紹了兩個專題：

1. Advances in mechanical properties measurement of nano-materials characterization by Bruker AFM，主要介紹近兩年布魯克AFM在測量力學(xué)方面的一些進(jìn)展，包括對力曲線和Force Volume的改進(jìn)，對PeakForce QNM測量準(zhǔn)確性的改進(jìn)，以及新的Contact ?resonance, Ramp & Hold和Ramp Scripting。

2.PeakForce SECM，主要介紹布魯克掃描電化學(xué)顯微鏡PeakForce SECM的概念與原理以及在電化學(xué)活性、液體中導(dǎo)電性測量等方面的應(yīng)用。

布魯克BNS應(yīng)用專家 孫昊博士 中山大學(xué)AFM專題講座

同日下午，孫昊博士在華南理工大學(xué)進(jìn)行力學(xué)測量技術(shù)的新進(jìn)展主題講座。接近20名AFM用戶參加了此次講座并參與討論。

華南理工大學(xué)AFM主題講座 ?孫昊博士