2017年3月6日，一年一度的Pittcon展會(匹茲堡分析化學和光譜應用會議暨展覽會)在美國芝加哥McCormick Place會展中心舉辦，本次展會為期5天。作為全球科學儀器行業(yè)內歷史悠久、規(guī)模最大的展會，本屆Pittcon2017共設1400個展位，在占地410,540平方英尺的展館內展出全球工業(yè)、學術和政府實驗室領域的產品和服務。儀器信息網作為合作媒體全程參加了本次盛會。

??? 借此盛會，作為密度、濃度、二氧化碳和流變測量技術的引領者——安東帕公司旗下九條產品線分別攜多款產品亮相展會，其中的Litesizer? 100納米粒度等新品更是吸引了眾多的參觀者駐足詢問。

安東帕公司展位

??? 為了便于各位網友更好地了解產品信息，儀器信息網編輯前往安東帕公司展位就此次重點推出的Litesizer? 100納米粒度進行了詳細咨詢。

??? 據(jù)了解，2016年4月，安東帕的Litesizer?500納米粒度及Zeta電位分析儀全新上市——只需按下按鈕即可進行顆粒分析。作為Litesizer?500的簡化版本，Litesizer? 100的粒度測量和軟件的簡化都得到進一步提升。

Litesizer? 100 是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器，

它可通過測量動態(tài)光散射(DLS)來測定顆粒尺寸。

　　納米顆粒和微粒的尺寸和穩(wěn)定性對它們的功能以及它們的加工和傳輸性質是至關重要的。Litesizer?100可以用來測定各種樣品的粒徑和透射率，快速準確地了解您的粒子系統(tǒng)。　　

　　Litesizer? 100 的一大亮點是其簡單而巧妙的軟件。我們已創(chuàng)建了可將輸入參數(shù)、結果和分析集中到單個頁面上的一頁式工作流程：您可以在數(shù)秒內完成試驗設置，只需簡單按鍵即可得出所需的分析結果和報告。

主要特點

　　顆粒尺寸測量：前所未有的分辨率

　　由于固件采用了非常先進的算法，因此可以精確測量單一懸浮液中幾種不同的顆粒尺寸。

　　可自動測量連續(xù)的透射比

　　通過透光率，您可以立即獲得樣品反饋并自動優(yōu)化測量參數(shù)(角度、聚焦位置和測量持續(xù)時間)。

　　簡單智能的軟件 - Kalliope?

　　Kalliope? 提供一頁式工作流，輸入參數(shù)、測量和分析唾手可得。此外，Kalliope? 完全符合 US FDA 的 21 CFR Part 11 法規(guī)要求。