礦物解離和工藝礦物學研究-選礦分析顯微鏡

礦物的解離和礦物的富集是構(gòu)成選礦的兩個主要部分。前者的主要
目的是將有用礦物和脈石分離開，所采用的工藝過程為將礦石破碎
并粉磨至一定粒度，產(chǎn)物為有用礦物顆粒和脈石礦物顆粒的混合物
。磨礦是選礦過程中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)，是實現(xiàn)有用礦物與脈石的解
離以及多種有用礦物分離的過程，但其能耗也是整個選礦過程中最
高的，約占總能耗的50％。只有將礦石粉磨到一定細的粒度才能實
現(xiàn)脈石中目標金屬含量為最低。但礦石粉磨過細則會造成生產(chǎn)成本
上升及部分“泥狀”有用礦物會被當作尾礦排掉的缺點。因此需從

磨礦成本和金屬損失兩個方面來確定磨礦的工藝和參數(shù)。對于礦物
嵌布粒度極小且分散程度大的低品位礦石，磨礦能耗及金屬損耗率
指標都會很高。對于相同的礦石，如果有用礦物和脈石在一些性質(zhì)
上具有很大的差異也會使兩個指標下降。
  工藝礦物學研究是選擇并確定選礦工藝的重要前提，包括有用
礦物和脈石礦物的性質(zhì)以及礦物的顯微組織研究。礦物的顯微組織
包括礦物粒徑、分布以及形狀等特征。根據(jù)礦石的工藝礦物學特點
，我們可以大致確定磨礦、精礦富集等選礦參數(shù)，并對礦物分離的
難易程度和精礦品位進行初步估計。根據(jù)對精礦和尾礦所進行的顯
微鏡下觀察可以得出礦物的解離程度以及選礦效率等工藝參數(shù)，如
對礦物不完全解離的原因進行鏡下觀察和分析。常規(guī)的光學顯微分
析方法是利用雙目光學顯微鏡對礦物標本的光薄片進行鏡下觀察。
隨著科學技術(shù)的進步，一些先進的分析儀器如基于掃描電子顯微技
術(shù)(SEM)的礦物解離分析儀(MLA)和礦物定量分析儀被應(yīng)用到礦物顯
微分析中。

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