儀器信息網(wǎng)訊 2018年9月5日，日本最大規(guī)模的分析儀器展JASIS ?2018在東京幕張國際展覽中心盛大開幕，吸引來自全球各地的萬余名觀眾參觀出席。

　　作為國際知名電子束曝光系統(tǒng)(EBL)生產(chǎn)商，Elionix在展會期間帶來其納米壓痕儀新品——ENT-NEXUS。

ELIONIX公司納米壓痕儀

????? Erionix新的ENT系列，ENT-NEXUS上市，采用允許自由組合框架和單元的模塊配置，可以進行各種測量，例如納米壓痕測試和表面力測量。(最多兩種類型的可安裝單元)

　　產(chǎn)品特點包括：高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性，實現(xiàn)了高穩(wěn)定性S/ N系統(tǒng)，即使在超小負載范圍內(nèi)也可以進行具有良好再現(xiàn)性的測試;測量環(huán)境管理組織，在納米壓痕測試中，由于樣品本身和樣品本身的溫度變化引起的熱漂移是一個嚴重的問題，為了最大限度地減少由于熱漂移對測量的影響，屏蔽罩內(nèi)的溫度控制在±0.1°C;高性能防振臺安裝，主動控制的高性能防振臺是標準配置;出色的可操作性，采用易于操作的軟件，因為只需設(shè)置測試條件即可實現(xiàn)全自動測量，即使是初學(xué)者也可輕松操作而不會出現(xiàn)人為錯;突破模塊配置等。

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