電子顯微鏡可測量直徑小于0．5微米磨損顆粒

電子顯微鏡
  電子顯微鏡可測量直徑小于0．5微米的磨損顆粒，也就是說，可以測量光學(xué)
顯微鏡看不到的顆粒。放大倍數(shù)可以達(dá)到250 000倍。此外，電子顯微鏡測量可
以測出小顆粒在細(xì)胞或血漿中的分布以及夾雜物的排列。另一方面，這種測量并
不能給出關(guān)于微粒來源物質(zhì)的準(zhǔn)確信息。另一不足是，不能準(zhǔn)確測量顆粒在整個(gè)
組織中的分布情況，因?yàn)樗荒軠y量很小的區(qū)域。因此電子顯微鏡測量技術(shù)在亞
微觀變化的研究上應(yīng)用比較多，而在研究細(xì)胞或纖維對磨損顆粒的普遍反應(yīng)上的
應(yīng)用則較少。
  掃描電子顯微鏡
  在光學(xué)和電子顯微鏡測量中，圖像由傳導(dǎo)的光線形成；與此不同，掃描電子
顯微鏡直接對機(jī)體表面進(jìn)行照射，因此，通過對組織進(jìn)行切片，可以觀察到切片
表面的情況。放大范圍為20倍至2萬倍，該檢查法能夠獲得超大的景深，并且
具有很好的空間分辨率。
  使用掃描電子顯微鏡時(shí)，發(fā)出一種高速電子束，其直徑約為100A，以線性
方式在高真空中對樣本表面進(jìn)行掃描。從樣本表面發(fā)射出來的次要電子束通過閃
爍晶體檢波器,以圖像形式記錄在記錄器上，從而形成圖像。準(zhǔn)備組織切片
時(shí)使用常見的石蠟切片技術(shù)，把厚度為4～40μm的切片放置于鋁板、經(jīng)過金蒸
發(fā)技術(shù)處理的石英玻璃、云母或透明塑料之上。然后，用厚度為100A的經(jīng)過蒸
發(fā)處理的鋁板或金板把制片蓋上，從而使制片具有良好的導(dǎo)電性和散熱能力，以
避免在電子掃描時(shí)造成熱損傷。

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