這款硅漂移探測器(SDD,Silicon Drift Detector)專業(yè)為XRF光譜儀和SEM掃描電鏡EDS能譜儀探測器應(yīng)用而設(shè)計，提供窗口材料的選擇，從鈹（8 m）到薄型聚合物（用于輕型X射線透射），并提供10mm 至60mm 的傳感器有源區(qū)域。 此外，所有或我們的SEM SDD版本都是無振動的。
硅漂移探測器在與創(chuàng)新的基于以太網(wǎng)的數(shù)字脈沖處理器相結(jié)合時得到優(yōu)化。 具體配置給每個客戶，SDD硅漂移探測器在廣泛的輸入計數(shù)率下提供卓越和穩(wěn)定的性能，以產(chǎn)生快速X射線圖。
硅漂移探測器規(guī)格SDD探測器典型特征傳感器區(qū)域窗口選項分辨率eV（Mn K / C）10mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 123-13330mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 126-13360mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 126-133100mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 128-133

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