集成電路 IC卡高低溫測試
集成電路 IC 卡高低溫測試原因：集成電路 IC 卡在出廠前必須經(jīng)過環(huán)境測試，用來模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能，inTEST-Temptronic 高低溫測試機(jī)憑借封裝級和晶片級集成電路專用高低溫測試機(jī)協(xié)助廠商完成例如高低溫循環(huán)測試 Thermal cycle、冷熱沖擊測試 Thermal stock、老化測試等試驗。inTEST-Temptronic 高低溫測試機(jī)每秒可快速升溫/降溫 18 度、測試溫度精度高達(dá) 1℃，特別適合大規(guī)模集成電路的高低溫電性能檢測。
集成電路 IC 卡高低溫測試客戶案例一：上海伯東客戶是一家利用 300mm 晶圓進(jìn)行芯片生產(chǎn)的半導(dǎo)體廠商，經(jīng)過技術(shù)選型，采購 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成電路 IC 卡高低溫測試。Temptronic ATS-505 臺式設(shè)計，體積輕巧，測試溫度范圍：-20 C 至 +225 C，采用旋鈕式控制面板，操作直觀。

Temptronic 集成電路高低溫測試方法：客戶采用 Air Mode 模式直接測試：
Temptronic ATS-505 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理，然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫；將被測電路IC卡放置在熱流罩位置，根據(jù)操作員設(shè)定，噴出和設(shè)定溫度相差 1℃的氣流，從而進(jìn)行電路板的高低溫測試。inTEST ATS-505 高低溫測試機(jī)自帶過熱溫度保護(hù)系統(tǒng)，出廠設(shè)置溫度 +230 C，操作員可根據(jù)實際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn)，當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)置溫度時，測試機(jī)將自動停機(jī)。

集成電路 IC 卡溫度測試客戶案例二：上海伯東客戶是一家 IC 卡生產(chǎn)企業(yè)，經(jīng)過技術(shù)選型，采購 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低溫測試機(jī)，ATS-535 內(nèi)置空壓機(jī)，溫度測試范圍：-60 C 至 +225 C，適用于實驗室內(nèi)無空壓系統(tǒng)的客戶，方便移動。
集成電路 IC 卡溫度測試方法：客戶采用 DUT Mode 模式測試：
1、將待測 IC卡和溫度傳感器放置在測試腔中
2、操作員設(shè)置需要測試的溫度范圍
3、啟動 ThermoStream ATS-535 ，利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理，然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫；氣流通過熱流罩進(jìn)入測試腔
4、測試腔中的溫度傳感器可實時監(jiān)測當(dāng)前腔體內(nèi)溫度，inTEST ATS-535 高低溫測試機(jī)自帶過熱溫度保護(hù)系統(tǒng)，出廠設(shè)置溫度 +230 C，操作員可根據(jù)實際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn)，當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)置溫度時，測試機(jī)將自動停機(jī)。

鑒于信息保密，更詳細(xì)的 Temptronic 集成電路IC 卡高低溫測試方法 歡迎撥打電話：021-5046-3511
inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收購，成為在美國設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測試機(jī)的首家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收購，使 inTEST 更強(qiáng)化高低溫循環(huán)測試以及溫度沖擊測試領(lǐng)域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出獨(dú)創(chuàng)的溫度環(huán)境測試機(jī)，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進(jìn)化成 inTEST ThermoStream  ATS 超高速溫度環(huán)境測試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST 中國總代理，全權(quán)負(fù)責(zé) inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù)。
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