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球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究。

球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700

由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標準型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。

最近，該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場發(fā)射電子槍，進一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時，該型號系列還增加了一款不帶球差校正的主機配置，可以以后加配球差校正進行升級。

球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700特色
 

高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)HAADF-STEM圖像0.144 nm(標準鏡頭)明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)高速，高靈敏度能譜分析：探針電流 10倍元素面分布更迅速及時低濃度元素檢測操作簡化自動圖像對中功能從樣品制備到觀察分析實現(xiàn)無縫連接樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容配有各種選購件可執(zhí)行各種評估和分析操作同時獲取和顯示SE BF, SE DF, BF DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至最低)高精度放大校準和測量*實時衍射單元*(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)采用三維微型柱旋轉樣品桿(360度旋轉)*，具有自動傾斜圖像獲取功能。ELV-3000即時元素面分布系統(tǒng)*(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)

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選購件

 

規(guī)格

HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡項目描述圖像分辨率w/o球差校正儀保證 0.204 nm(當放大倍數(shù)為4,000,000時)w球差校正儀保證 0.144 nm(當放大倍數(shù)為7,000,000時)(標準鏡頭)保證 0.136 nm(HAADF圖像)
保證 0.105 nm(通過FFT)(當放大倍數(shù)為7,000,000時)(高分辨率鏡頭*)放大倍數(shù)100倍 至 10,000,000倍加速電壓200 kV, 120 kV *成像信號明場掃描透射電子顯微鏡：相襯圖像(TE圖像)
暗場掃描透射電子顯微鏡：原子序數(shù)襯度圖像(Z襯度圖像)
二次電子圖像(SE圖像)
電子衍射*
特征X射線分析和面分布(能譜分析)*
電子能量損失譜分析和面分布(EV3000)*電子光學系統(tǒng)電子源肖特基發(fā)射電子源冷場致發(fā)射器*照明透鏡系統(tǒng)2-段聚光鏡鏡頭球差校正儀*六極鏡頭設計掃描線圈2-段式電磁感應線圈原子序數(shù)襯度收集角控制投影鏡設計電磁圖像位移 1 m試片鏡臺樣品移動X/Y軸 = 1 mm, Z軸 = 0.4 mm樣品傾斜單軸-傾斜樣品桿： 30 (標準鏡頭), 18 (高分辨率鏡頭*)真空系統(tǒng) 3個離子泵，1個TMP極限真空10-8 Pa(電子槍), 10-5 Pa(樣品室)圖像顯示個人電腦／操作系統(tǒng)PC/AT兼容, Windows  XP監(jiān)視器19-inch液晶顯示器面板圖像幀尺寸640 480, 1,280 960, 2,560 1,920 象素掃描速度快掃，慢掃(0.5至320秒/幀)自動數(shù)據顯示記錄序號，加速電壓，下標尺，日期，時間

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