平板型和旋轉(zhuǎn)鼓型試驗(yàn)箱帶有、等量的反饋意見控制回路輻照度過程控制系統(tǒng)。建議一個(gè)季度拆卸Ledled燈管會(huì)減少Ledled燈管噴霜的傷害。氙燈老化試驗(yàn)機(jī)依據(jù)運(yùn)用將輻照度控制在410nm或者410nm的控制板，氙燈老化試驗(yàn)機(jī)在獨(dú)特地域的色譜儀變更量會(huì)被推進(jìn)降低。

基礎(chǔ)知識(shí)上、燈源抗拉強(qiáng)度可以在氙氣燈色譜儀的隨便位置進(jìn)行監(jiān)控器，但依據(jù)運(yùn)用的只是為數(shù)不多的好幾個(gè)波段。一般在原料為特別敏感的色譜儀地域進(jìn)行輻照度控制(例如，預(yù)計(jì)會(huì)出現(xiàn)融解的地域)。此外、輻照度控制點(diǎn)還因加工制造業(yè)、應(yīng)用的不同而變更。

平板型和旋轉(zhuǎn)鼓型試驗(yàn)箱通常裝有410nm或410nm窄帶輻照度過程控制系統(tǒng)。氙燈老化試驗(yàn)機(jī)根據(jù)不同的規(guī)格型號(hào)。某些歐洲檢驗(yàn)箱可運(yùn)用1個(gè)光纖寬帶TUV(詳盡紫外線，350～300nm)，或1個(gè)極光纖寬帶詳盡輻照度控制板(390～800nm).光纖寬帶控制板不易對(duì)紫外線的客觀性小的變化做出體現(xiàn)，這類非敏感性將會(huì)給由色譜儀短波紫外線部分伺服驅(qū)動(dòng)器的關(guān)鍵融解體系造成難點(diǎn)。

簡言之、平板型和旋轉(zhuǎn)鼓型氙燈老化試驗(yàn)機(jī)帶有、等量的反饋意見控制回路輻照度過程控制系統(tǒng)。建議一個(gè)季度拆卸Ledled燈管會(huì)減少Ledled燈管噴霜的傷害。依據(jù)運(yùn)用將輻照度控制在410nm或者410nm的控制板，在獨(dú)特地域的色譜儀變更量會(huì)被推進(jìn)降低。