溫度試驗(yàn)箱在開機(jī)和每次的加溫、保溫過程中產(chǎn)生的溫度過沖對試驗(yàn)產(chǎn)品是非常有害的。尤其是那些溫度敏感的產(chǎn)品和膠合材料，瞬時(shí)過沖的溫度都會導(dǎo)致產(chǎn)品的損壞和膠合材料的失效。

李紅燕《溫度試驗(yàn)箱溫度過沖問題探討》

T 在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，工作空間實(shí)際最高或最低溫度，單位為攝氏度（℃）；

Ts 設(shè)定溫度，單位為攝氏度（℃）；

T 溫度允許偏差值，單位為攝氏度（（℃）。

3.2.17

溫度過沖恢復(fù)時(shí)間 recovery time of temperature over

在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，工作空間實(shí)際溫度從超出規(guī)定溫度允許范圍至開始穩(wěn)定在規(guī)定溫度允許范圍的時(shí)間。

GB/T 5170.1-2016 檢測方法第1部分：總則

8.8 溫度過沖量檢驗(yàn)

8.8.1 測量點(diǎn)位置

溫度過沖量測量點(diǎn)規(guī)定為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)。

8.8.2 檢驗(yàn)步驟及計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果

溫度過種量檢驗(yàn)步驟及計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果如下：

T 在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，測量點(diǎn)實(shí)測的最高或最低溫度值，單位為攝氏度（℃）；

Ts 設(shè)定的溫度值，單位為攝氏度（℃）；

T 溫度允許偏差值，單位為攝氏度（（℃）。

注：設(shè)備升溫時(shí)，測量點(diǎn)的溫度沒有超出允許的最高溫度，設(shè)備降溫時(shí)，測量點(diǎn)的溫度沒有超出允許的最低溫度，則不存在溫度過沖，即沒有溫度過沖量。

8.9 溫度過沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)

8.9.1 測量點(diǎn)位置

溫度過沖恢復(fù)時(shí)間測量點(diǎn)規(guī)定為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)。

8.9.2 檢驗(yàn)步驟及計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果

溫度過沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)與溫度過沖量檢驗(yàn)同時(shí)進(jìn)行。在溫度過沖量檢驗(yàn)時(shí)，記錄測量點(diǎn)溫度從發(fā)生溫度過沖時(shí)起，到開始穩(wěn)定在允許的最高溫度內(nèi)（設(shè)備升溫至設(shè)定溫度時(shí)）或允許的最低溫度內(nèi)（設(shè)備降溫至設(shè)定溫度時(shí)）所需要的時(shí)間，即為設(shè)備在該檢驗(yàn)溫度下的溫度過沖恢復(fù)時(shí)間，單位為分（min）。

注：只有存在溫度過沖時(shí)，才有溫度過沖恢復(fù)時(shí)間。

GB/T 5170.2-2017 檢驗(yàn)方法第2部分：溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC60068-2-1：2007，IDT）

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫（IEC60068-2-2：2007，IDT）

GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化