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        X熒光光譜儀的放射源和探測(cè)器在相對(duì)位置不變的情況下，樣品位置的改變將會(huì)給測(cè)量結(jié)果帶來(lái)明顯的影響。 X熒光光譜儀對(duì)準(zhǔn)樣品激發(fā)時(shí)最佳距離 在實(shí)際工作中，X熒光光譜儀探測(cè)器測(cè)定樣品的X射線熒光強(qiáng)度時(shí)，探測(cè)器與樣品之間的距離不同，記錄到的熒光強(qiáng)度也不一樣，所以必須在固定的幾何條件下進(jìn)行測(cè)量工作。在哪種幾何條件下能得到最大的X射線熒光強(qiáng)度，保證較高的測(cè)量精度，對(duì)于探測(cè)器窗口直徑不同的儀器，最佳距離也不同，沒(méi)有一個(gè)固定的數(shù)值。 當(dāng)放射源至樣品的距離很大時(shí)，放射源的初級(jí)射線在樣品表面的強(qiáng)度很小，所激發(fā)的X射線熒光強(qiáng)度也很小。 當(dāng)放射源至樣品的距離很小時(shí)，樣品表面的放射源初級(jí)射線很強(qiáng)，但產(chǎn)生的熒光強(qiáng)度主要集中在放射源附近，產(chǎn)生的特征X射線被放射源本身?yè)踝?，不能被探測(cè)器記錄，熒光強(qiáng)度的記錄數(shù)值也就減小。 對(duì)于探測(cè)器窗口直徑不同的X熒光光譜儀，最佳距離也不同，在設(shè)計(jì)儀器時(shí)，會(huì)考慮到儀器的檢測(cè)距離，根據(jù)指示操作即可。