MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能*。

MicroTEQ-B1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，具備透反射測(cè)量功能。

MicroTEQ-S1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測(cè)量功能。通過(guò)把光譜模塊集成到顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構(gòu)成，自由靈活，幫助用戶快速對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，微觀光譜信息的測(cè)試和分析；此外系統(tǒng)可以加裝二維電控掃描臺(tái)，通過(guò)軟件控制，實(shí)現(xiàn)光譜二維掃面測(cè)量功能。