PMI-手持式XRF和直讀光譜儀兩種測(cè)試方法的較量 發(fā)布日期:2019-03-29 08:59:14 發(fā)布人:聲吶科技 點(diǎn)擊量:11 為何選擇PMI？通過(guò)正材料識(shí)別（PMI），可以確定合金成分，從而確定材料的特性。如果缺少材料證書(shū)或/并且您需要確定所用材料的類(lèi)型，PMI作為NDT方法是最佳解決方案。正極材料識(shí)別特別適用于高品質(zhì)金屬，如不銹鋼和高合金金屬。兩種類(lèi)型的PMI由于工業(yè)中使用的材料規(guī)格越來(lái)越具體，因此對(duì)PMI測(cè)試的需求一直在穩(wěn)步增長(zhǎng)。可以使用手持式XRF和OES類(lèi)型的PMI，兩種分析技術(shù)都有優(yōu)缺點(diǎn)。手持式X射線熒光（XRF）儀器通過(guò)將待測(cè)樣品暴露于X射線束來(lái)工作。樣品的原子從X射線吸收能量，暫時(shí)被激發(fā)，然后發(fā)射二次X射線。每種化學(xué)元素以獨(dú)特的能量發(fā)射X射線。通過(guò)測(cè)量發(fā)射的X射線的強(qiáng)度和特征能量，分析儀可以提供關(guān)于被測(cè)材料成分的定性和定量信息。手持式XRF分析儀易于使用，裝置重量輕，體積小，待測(cè)樣品不需要太多準(zhǔn)備。但是，XRF儀器可以測(cè)量的元素?cái)?shù)量存在限制。此外，產(chǎn)生X射線的傳統(tǒng)方法使用放射性同位素，其使用需要大量記錄。在最新一代便攜式XRF分析儀中，同位素已被小型X射線管取代，需要更少的文檔記錄。在直讀光譜儀（OES）技術(shù)中，原子也被激發(fā)，然而，激發(fā)能量來(lái)自樣品和電極之間形成的火花。在這種情況下，火花的能量使得樣品中的電子發(fā)光，這被轉(zhuǎn)換成光譜圖案。通過(guò)測(cè)量該光譜中峰的強(qiáng)度，OES分析儀可以對(duì)材料成分進(jìn)行定性和定量分析。雖然OES被認(rèn)為是一種無(wú)損檢測(cè)方法，但火花確實(shí)會(huì)在樣品表面留下小量燒傷。直讀光譜（OES）儀器尺寸更大，使用氬氣來(lái)提高精度。樣品制備起著重要作用; 然而，儀器分析金屬中通常使用的元素的能力幾乎沒(méi)有限制。選擇OES技術(shù)而不是XRF的關(guān)鍵原因之一是OES在測(cè)量金屬中輕元素（如碳和鋁）方面的優(yōu)勢(shì)。OES是測(cè)量實(shí)驗(yàn)室外碳的唯一可靠方法，通常需要用不銹鋼，鎂和硅等材料進(jìn)行測(cè)量。該技術(shù)還用于測(cè)量鋁合金中的鋁。OES測(cè)量可以在沒(méi)有氬氣氛的情況下實(shí)現(xiàn)，但是會(huì)降低精度和精度或重復(fù)性。聲吶科技作為光譜界出色的搬運(yùn)工，我們不僅有手持式XRF分析儀，我們還有各種配置的直讀光譜儀，無(wú)論您的PMI選擇哪種檢測(cè)技術(shù)，聲吶科技都可以幫助您。