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銅及銅合金展伸晶粒尺寸測(cè)量金相分析顯微鏡

1.范圍
銅及銅合金展伸材料之α相經(jīng)退火后之晶粒尺度測(cè)定法及其表示法。

2. 晶粒之定義
含有雙晶之晶粒者，視為單一結(jié)晶之晶粒，除α相外，若有其他微量β相、鉛粒子、
金屬間化合物時(shí)，僅以α相表示其晶粒尺度。

3. 試樣及其處理
由材料上采取具有代表性之試樣，以電解或機(jī)械方法研磨，再以電解或化學(xué)方式蝕刻，使晶粒組織呈現(xiàn)以供判定。

4. 晶粒尺度之表示法
(a)晶粒尺度以mm表示(1)。
晶粒尺度的計(jì)算值或觀測(cè)值之修整依下列方法表示：
(1) 0.010 mm以下者，以最接近0.001 mm之整數(shù)倍值表示。
(2) 超過0.010 mm，0.060 mm以下者，以最接近0.005 mm之整數(shù)倍值表示。
(3) 超過0.060 mm者，以最接近0.010 mm之整數(shù)倍值表示。
注(1) 例如以0.025 mm表示。
(b)晶粒度不均勻，不適用單一表示時(shí)，可以二種晶粒尺度所占面積的推定百分比表示。
注(2)例如以0.015 mm有30 %，0.070 mm有70 %表示