不同巖石粒度測定用光學(xué)顯微鏡帶自動圖象分析

細(xì)、中、粗粒晶質(zhì)巖石的巖性模式分析

  在研究不同粒度的變質(zhì)巖和火成巖的時候，通常都需要有標(biāo)準(zhǔn)礦物
成分的資料。因為在32X的放大倍數(shù)下，研究型光學(xué)顯微鏡的分辨率為
5-10μm ，標(biāo)準(zhǔn)礦物成分的數(shù)據(jù)可通過點計數(shù)法或羅西瓦分析法來獲得。
在作點計數(shù)時，要使用帶網(wǎng)格測微尺的目鏡。為了提高分析的速度，我
們使用自動圖象分析系統(tǒng)來完成這項工作。用點計數(shù)法和使用自動圖象
分析系統(tǒng)測量的精度大體相同，但后者的分析速度要快得多，且數(shù)據(jù)的
吻合性好。

  為便于目測或作自動圖象分析，有時需要考慮對某些礦物相，如長
石等，進(jìn)行染色。不過對大多數(shù)晶質(zhì)巖石來說，供宏觀研究用樣品的制
備都較簡單，只需切出一個平面，再用800 目砂紙磨拋就可以了。

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