一般包裹體的粒度常小于50μm-測量顯微鏡型號

  在冷熱臺上的光學(xué)圖像遠(yuǎn)比標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡成像差。因此，測試之
前的包裹體研究工作是在標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡下進(jìn)行的，尋找到理想的包裹
體，確定包裹體的成因類型和捕獲后是否變化，

  估測包裹體的成分、鹽度和近似的均一溫度，大量的記錄、素
描和攝像等工作在標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡下進(jìn)行更方便和效果更佳。認(rèn)真細(xì)致
的進(jìn)行這些工作將節(jié)省花費(fèi)在測試實(shí)驗上的大量時間，更重要的是
能捕獲到更多的成巖成礦信息。

  多數(shù)包裹體的粒度常常小于50μm(0.05mm) ，使用普通國產(chǎn)顯
微鏡時，通常放大250 倍后才容易找到包裹體，要詳細(xì)觀察包裹體
的內(nèi)部細(xì)節(jié)，至少要放大到400 倍~500倍。高放大倍數(shù)對單個包裹
體的研究是必要的，

  但也不應(yīng)忽視低倍鏡的使用。100 倍或更低的低倍系統(tǒng)能觀察
到樣品中更大視域內(nèi)的情況，因此觀察者首先應(yīng)該使用低放大(x 100)
系統(tǒng)對整個片子進(jìn)行粗略的瀏覽，

  確定可能存在的包裹體位置。低倍(x 100) 鏡下樣品中平均粒
度10μm 左右的包裹體呈小黑點(diǎn)狀以群體或呈枝蔓狀定向分布，這
時把物鏡換成較高的倍數(shù)，對準(zhǔn)黑色斑點(diǎn)，同時提升物臺下聚光鏡
使其更接近樣品，調(diào)整好焦距，包裹體就清晰可見了。

  使用低倍鏡對揭示包裹體生長帶、顆粒邊界和顯微裂隙之間的
關(guān)系十分方便，這對確定包裹體的成因類型很有好處。因此包裹體
觀察過程中經(jīng)常是交替使用低放大倍數(shù)和高放大倍數(shù)系統(tǒng)。

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