金屬及合金的截面微觀晶粒直徑計(jì)量圖像顯微鏡

  所謂組織分析，不只是利用顯微鏡觀察金屬及合金的微
觀組織，而定量地表示組織中的組成相的量、晶粒直徑、化
學(xué)成分等方法也都稱為組織分析。組織分析有各種方法，但
這里只選擇了最基木的利用光學(xué)顯微鏡的定量的組織觀察以
及近兒年發(fā)展的著名的X線微區(qū)分析。

  為了通過(guò)顯微鏡觀察定量測(cè)定組成金屬組織的晶粒的大
小以及第二相的量，練習(xí)自古已有的點(diǎn)算法與直線法，分析測(cè)
定上的間題及誤差。

  金屬組織本來(lái)是向三維擴(kuò)展的組織，但在光學(xué)顯微鏡下
見(jiàn)到的不過(guò)是它的一個(gè)斷面。因此，在組織分析時(shí)，必須考
慮正確地進(jìn)行由二維的斷面組織向三維組織的變換。定量表
示組織的三維參數(shù)，一般不能根據(jù)光學(xué)顯微組織直接估算，而
要根據(jù)幾何學(xué)關(guān)系聯(lián)合各種測(cè)定值進(jìn)行估算。

由于這種設(shè)備的分析范圍如上所述，因而可以精確求出顯微
組織與構(gòu)成組織的組成元素間的關(guān)系。這種設(shè)備是綜合電子
顯微鏡與熒光X線分析設(shè)備而發(fā)展起來(lái)的， 自1951年R .卡
斯特(法)研制成功后，作為微區(qū)的成分分析法得到了迅速
地發(fā)展?，F(xiàn)在，可以分析Be以上的所有元素，并且在很多
方面都已加以采用。在金屬學(xué)范圍內(nèi)，可用以進(jìn)行合金相的
研究、不同金屬間的擴(kuò)散、合金中的偏析、析出物或雜質(zhì)的
鑒定、在表面氧化物或鍍層相中的合金元素的分布及濃度的
測(cè)定等。

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