電粒度分析與顯微鏡分析磨粉的粒度的特點(diǎn)


  光在各種微粒上的漫散射，是產(chǎn)生測(cè)量誤差的原因之一
(特別是檢驗(yàn)輕度色散性磨粉時(shí))。要消除這一缺陷，可在上
述儀器中與光通道平行的平面上加裝一個(gè)輔助光電元件，這
個(gè)無(wú)電元件和儀器的主要光電元件面對(duì)面地安裝。因?yàn)閼腋?br>掖中光的漫射是擴(kuò)散型的，也就是光的漫射強(qiáng)度在任何方向
都是相等的，故接入輔助光電元件就可校準(zhǔn)儀器的示值。主
要光電元件和輔助光電元件必須要選擇其特性相一致的。

上述光電粒度分析法具有一系列優(yōu)點(diǎn)，比較顯微鏡分析法，包
括分析時(shí)間大大縮短，能足夠客觀地評(píng)定待分析磨粉的粒度
組成，以及令人滿(mǎn)意的測(cè)量結(jié)果的重合性。但是，這種方法
也有一些缺點(diǎn)，因而目前還在研制新的粒度組成分析法。盡
管這些方法暫時(shí)還未在磨料磨異工業(yè)中得到廣泛的應(yīng)用

(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.sgaaa.com)