應(yīng)用相襯金相顯微鏡觀察金相樣品有何特點

  相襯顯微鏡是另一種在金相學(xué)上應(yīng)用的技術(shù)，這使有些
特殊表面現(xiàn)象的觀察甚至在沒有顏色或反射性襯比的情況下成
為可能。例如，從一金相樣品的微小凹陷部分分析反射出來的
光，相對于從其四周基體上所反射出來的光，在周相上將延遲
光波一個波長的幾分之幾，這一區(qū)別在普通顯微鏡物鏡所收集
的光在最后所形成的像是分不出有所襯比來的，而在相襯顯微
鬮，周相的微小差別變成了亮度的差別，這是人眼所能覺察的。

  相襯顯微技術(shù)的應(yīng)用包括經(jīng)過輕微侵蝕后對多相合金的觀
察，以及沉積的早期階段，解理面，孿晶及其形變特征的研究，
表面高低度的最適用范圍約為200A-500A ，雖則在有利條件下
這個限度還可能擴展。

  所以要應(yīng)用這一技術(shù)是由于，當(dāng)平面偏振光以正入射的方
向射至一光學(xué)各向同性樣品的表面而被反射時是不會發(fā)生什么
變遷的，如入射光并不以正入射的方向入射，則反射光也可能
并不發(fā)生什么變遷，這只是當(dāng)入射角在偏振平面內(nèi)或垂直于偏
振平面的情形，否則反射光將是橢圓偏振的，因此檢偏振器在
正交位置將使末經(jīng)變遷的反射光不能使之完全消光，如所觀察
樣品是光學(xué)各向異性的，則正入射光被反射時，其偏振平面將
轉(zhuǎn)動，反射光將是要橢圓偏振的，轉(zhuǎn)動的大小及橢圓偏振的大
小則須視樣品性質(zhì)及晶體取向而定。

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