雙重晶粒組織

  金屬中具有雙重晶粒組織（混晶組織）的情況也不少，雙重
晶粒組織具有晶粒面積、直徑及線截距的雙峰頻率分布，雙重
晶粒組織有兩種情況，一種表現(xiàn)為界線分明的細晶區(qū)團和粗晶
區(qū)團，即在大晶?；w中包含小晶?；蚺c之相反，另一種則表
現(xiàn)為少量超出正常晶粒大小分布范圍的晶粒散布于正常晶?；?br>體上。

  雙重晶粒組織的晶粒大小的測量就是要測出兩種晶粒的晶粒
度級別，并確定它們的比率，前一種情況比較簡單，只要用較
低的倍率在隨機選擇的若干視場中對細晶區(qū)和粗晶區(qū)進行點計
數(shù)來確定其體積積分率，然后再在適當?shù)妮^高倍率下分別測量
其晶粒度級別，而后一種情況就比較困難，最好的辦法就是測
出整個晶粒線截距的頻率分布，然后再把數(shù)據(jù)分成兩個組來分
別計算，提出用幾組間隔為5mm的平行線柵格在0°、45°、90
°、135°4個方向上測量線截距，然后按線截距大小以每1mm
間隔（在測量放大倍數(shù)下）把數(shù)據(jù)分組，畫出頻數(shù)分布圖后就
可以劃分出細晶區(qū)和粗晶區(qū)，并分別進行計算。

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