顯微鏡下觀察斷點(diǎn)接觸到微探針,檢測儀器的應(yīng)用

仿真器的優(yōu)越之處就是能從控制臺(tái)
上全面地控制和測試待開發(fā)系統(tǒng)(圖的右部)。停止8080的操柞
是能夠做到的，檢查或者更改寄存器也能做到。為了做到這一點(diǎn)，
就需要把8080的管殼打開，在顯微鏡下接觸到微探針上，以取得
寄存器的內(nèi)容。在一個(gè)實(shí)際的8080當(dāng)中，寄存器的內(nèi)容是無法
利用的，只有在總線上的信息才可利用。利用仿真器，就可以用
程序斷點(diǎn)自動(dòng)地停止8088的操作。這一點(diǎn)將在下面說明?？梢韵?br>對待存貯器的內(nèi)容那樣來檢查或者更改寄存器的內(nèi)容，可以坐在
鍵盤旁邊通過按鍵來執(zhí)行諸如閉合繼電器之類的輸入／輸出指令，
這樣也就可以再次使處理器停機(jī)，并檢查總線、寄存器和存貯器。
此外，所有的操作都可以在開發(fā)系統(tǒng)中的軟件輔助下進(jìn)行。存貯
器的檢查和更改可以用符號(hào)形式進(jìn)行，而不采用二進(jìn)制或十六進(jìn)
制形式，這叫做符號(hào)改錯(cuò)。

  斷點(diǎn)是指定程序自動(dòng)停止地址的一種標(biāo)志。把地址選擇出來，
并把一個(gè)斷點(diǎn)清單送給仿真器。當(dāng)運(yùn)行當(dāng)中到達(dá)指定的地址時(shí)，
被仿真的微處理器便自動(dòng)停機(jī)，使用戶得以驗(yàn)證寄存器、總線或
者存貯器的內(nèi)容。此外，電路內(nèi)仿真器還具有一種回視(trace— back)
能力。這種能力為總線上的信號(hào)在下一段指定時(shí)間內(nèi)的歷
史提供一個(gè)“高速攝影”。INTEL ICE能夠提供44個(gè)機(jī)器周期
的回視。只要遇到斷點(diǎn)，電路內(nèi)仿真器便停止執(zhí)行，并為用戶提
供一種符號(hào)改錯(cuò)手段。通常，當(dāng)斷點(diǎn)處檢出一個(gè)錯(cuò)誤時(shí)，這個(gè)錯(cuò)
誤并不是由斷點(diǎn)處的指令所產(chǎn)生，而是由程序中以前的指令所產(chǎn)
生的。問題在于確定產(chǎn)生錯(cuò)誤的指令的位置。利用這種回視能
力，就可以檢查過去的信號(hào)，以確定在檢出錯(cuò)誤之前執(zhí)行過哪些
指令。如果這段歷史記錄不夠長，則可設(shè)置一個(gè)較前的斷點(diǎn)，以
便給系統(tǒng)增加一段歷史記錄。這一過程可以重復(fù)進(jìn)行，直到最后
能把錯(cuò)誤加以確認(rèn)為止。

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