激光測距儀測量的優(yōu)點和發(fā)明-光學(xué)儀器常識

激光測距儀測量法具有以下優(yōu)點。
  ①基于向物體發(fā)射能量，不存在盲區(qū)(Missing part)。
  ②對物體表面性質(zhì)(顏色、質(zhì)地、紋理)不加限制。
  ③可直接進行絕對測量。
  ④無需取得圖像及對圖像作分析處理。
  該方法的缺點是系統(tǒng)復(fù)雜，測量精度低，測量時間長，只適合于
特大型物體的測量。
  1969年，Hildebrand和Haines從相干光學(xué)的觀點出發(fā)，提出了一
種采用雙波長光源的全信息等高技術(shù)。它可以在物體上生成等高線
，等高線的分辨率取決于光源波長，且不能任意變化。Hildebrand
和Haines提出的另一種方法是由兩個具有不同波長的點光源產(chǎn)生的
干涉條紋在物體上生成等高線，與第一種方法相比，第二種方法產(chǎn)
生的等高線圖的分辨率可以從波長級變化到忽米級。對于雙光源系
統(tǒng)來說，其主要問題是，若物體上有一些“漩渦花樣”，特定區(qū)域
將不能清晰地描繪出全息等高圖。
  相干測量法對測量環(huán)境要求極高，一般只能在實驗室條件下測
量，且不易于實現(xiàn)自動化。
  由于激光測距儀鋇0量法和相干測量法都存在一些難以克服的
缺點，三角測量(Triangulation)法一直得到人們的重視。三角測
量系統(tǒng)可以進一步分為主動式系統(tǒng)(Activesystem)和被動式系統(tǒng)(P
assing system)。

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