直接測(cè)量層表面特征表面粗糙度或波紋度顯微鏡

預(yù)浸潰層的表面特征
  在建立層間緊密接觸模型時(shí)，一個(gè)重要參數(shù)是由預(yù)浸料寬度方
向上絲束高度的變化導(dǎo)致的表面粗糙度或波紋度。因此，預(yù)浸料表
面粗糙度的表征非常重要。影響預(yù)浸料表面粗糙度的參數(shù)包括纖維
類(lèi)型、絲束尺寸、基體樹(shù)脂和預(yù)浸料的生產(chǎn)方法。緊密接觸測(cè)量
  測(cè)量復(fù)合材料凝固過(guò)程總體質(zhì)量最常用的兩項(xiàng)技術(shù)是光學(xué)顯微
技術(shù)和透射c一掃描技術(shù)。這兩項(xiàng)技術(shù)都很適合于用來(lái)測(cè)量層界面
間的緊密接觸程度。
  光學(xué)顯微照片。由于通過(guò)該技術(shù)可以直接測(cè)量層界面，所以這
種方法的準(zhǔn)確程度很高。但是，復(fù)合層壓材料必須切成小試樣，而
且每個(gè)小試樣都必須封裝并仔細(xì)拋光。此外9高倍放大時(shí)，每張顯
微照片只涵蓋了幾微米長(zhǎng)的層間界面。因此，該過(guò)程十分耗時(shí)，所
以其所測(cè)量的試樣的實(shí)際數(shù)量有限。為了減少測(cè)試緊密接觸程度時(shí)
的工作量，可以把顯微照片數(shù)字化，并用圖像分析軟件來(lái)測(cè)量層界
面間的空隙含量(不完全接觸區(qū)域)。
  超聲C一掃描技術(shù)是確定復(fù)合材料微結(jié)構(gòu)缺陷最常用的無(wú)損方
法。透射C一掃描技術(shù)很容易實(shí)現(xiàn)，而且可以在數(shù)分鐘內(nèi)對(duì)大面積
的復(fù)合材料進(jìn)行掃描。但該技術(shù)不能揭示缺陷的類(lèi)型。因此，通過(guò)
C一掃描無(wú)法確定缺陷是由層界面間的不完全接觸造成的，還是復(fù)
合材料微結(jié)構(gòu)中其他類(lèi)型的缺陷。
  測(cè)量多層復(fù)合層壓材料緊密接觸最有效的方法是，首先使用C
一掃描或其他無(wú)損方法來(lái)確定板條中缺陷的位置。然后含有缺陷的
板條的截面用光學(xué)顯微鏡來(lái)檢查，再測(cè)量層間界面得到完全接觸
程度。

相分離行為
  PEI與熱固性單體或部分已固化的熱固性樹(shù)脂的混溶性可通過(guò)
濁點(diǎn)測(cè)量進(jìn)行分析。濁點(diǎn)由光學(xué)顯微鏡的透射光強(qiáng)度變化的起點(diǎn)確
定。為了在冷卻過(guò)程中保持熱平衡，濁點(diǎn)測(cè)量時(shí)采用0．2℃／min
的慢冷卻速率。SEM用來(lái)研究給定PEI含量共混物的相分離機(jī)理。將
樣品在不同時(shí)間間隔下從150℃的固化箱中取出，立即淬冷，放于
液氮中淬斷。電子顯微鏡照片可顯示在固化過(guò)程中的顆粒的發(fā)展。
相形態(tài)
  用SEM觀察不同固化溫度和組成的固化樣品的最終形態(tài)。在SEM
測(cè)量前，將在液氮中脆斷的后固化樣品的斷裂面用氯甲烷刻蝕。

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