儀器型號：DSC2010

生產(chǎn)廠家：美國TA Instruments

1、主要功能及應(yīng)用范圍：

差示掃描量熱法是在程序溫度控制下測量樣品與參比之間單位時(shí)間的能量差（或功率差）隨溫度變化的一種技術(shù)。常應(yīng)用于考察樣品玻璃化轉(zhuǎn)變、熔融、結(jié)晶及結(jié)晶度、氧化穩(wěn)定性（氧化誘導(dǎo)期）、相變、多晶型轉(zhuǎn)變、比熱、固化等。

2、主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)：

（1）溫度范圍：室溫～600℃

（2）冷卻附件RCS：100～350℃

（3）溫度準(zhǔn)確性：+/-0.1℃

（4）溫度精確性：+/-0.05℃

（5）量熱重現(xiàn)性（銦標(biāo)樣）：+/-1%

（6）量熱精確性（銦標(biāo)樣）：+/-0.1%

（7）基線彎曲度（-50～300℃）：＜0.15mW

（8）基線重現(xiàn)性：＜0.04mW

（9）靈敏度：1.0μW

（10）銦峰高/半峰寬(mW/℃)*：8.0

3、聯(lián)系方式：

設(shè)備保管人：徐穎（老師）

電話/Email：0512-65880383/xuying@suda.edu.cn

地點(diǎn)：705幢602室