2016年5月17日上午，由中國鑄造協(xié)會主辦的第十四屆中國國際鑄造博覽會在中國國際展覽中心（北京順義新館）隆重舉行。 煙臺東方分析儀器有限公司作為國內(nèi)專門生產(chǎn)直讀光譜儀等分析儀器的高新技術(shù)企業(yè)，應(yīng)邀參加了本次鑄造盛會，我公司的展位為山...

采用CCD將會降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積，實(shí)現(xiàn)全譜分析，

可以很方便地增加檢測元素的種類。

此外，CCD具有良好穩(wěn)定性和較長的使用壽命。CCD型光電直讀光譜儀可以實(shí)現(xiàn)激發(fā)樣品時(shí)自動(dòng)完成波長校準(zhǔn)，不再需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)。采用CCD可實(shí)現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動(dòng)。

傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比，對CCD的研究起步較晚，作為新型檢測器件，還存在一定的局限性。首先CCD沒法如PMT那樣每個(gè)通道都做優(yōu)化。其次，CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫，低溫控制的實(shí)現(xiàn)相對比較困難；CCD目前還無法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù)，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT； CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理

多塊CCD之間的接收空白區(qū)，也是一個(gè)問題。此外，當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿足中端分析應(yīng)用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。

雖然目前CCD還有一些不足之處，但是CCD在光電直讀光譜儀中的應(yīng)用是值得期待的。近些年CCD器件發(fā)展已經(jīng)相當(dāng)成熟，能夠滿足一般的分析要求，針對細(xì)分市場，各種特殊用途的CCD不斷產(chǎn)生?？梢灶A(yù)期CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)技術(shù)很快會應(yīng)用于CCD當(dāng)中，這些技術(shù)的不斷發(fā)展會促使CCD發(fā)展到更高的水平。

CCD與PMT結(jié)合是目前解決全譜檢測并滿足微量和痕量分析的最優(yōu)選擇，但同時(shí)滿足兩種類型檢測器的采樣控制和系統(tǒng)的完美結(jié)合目前仍然是該類儀器的制造難點(diǎn)。