Semishare SX-12（SX Series）是一款集成了電學、光波、微波、等測試功能的半自動探針臺，專業(yè)應對 12寸Wafer (向下兼容8寸，6寸）Si，GaN，SiC等各類材質(zhì)的先進芯片的性能測試?？蓪A、MEMS、生物結 構、光電器件以及其他集成電路、LED、LCD、太陽能電池等進行7*24全天候在片探測，并可加載溫控系統(tǒng)，滿足 客戶于高低溫環(huán)境下的各種性能測試要求。 Semishare SX-12(SX系列）半自動高低溫探針臺是在-60-200℃環(huán)境下通過探針或探針卡點測樣品pad電 極,通過連接測試儀器加載和測量電學信號，并在軟件端對電學信號進行控制、判斷與存儲，并將判斷信息反饋 至噴墨系統(tǒng)，對次品芯片（die）進行打點標記，其中，標記方式可根據(jù)客戶要求設定。在一個芯片（die）測試 完成后，通過軟件控制系統(tǒng)將chuck機械平臺移動至下一個待測芯片（die），依次進行循環(huán)測試。

設備?途&功能  SX-12 4 SX-12 設備可配備相應的儀器儀表，對各類元器件、Wafer等進行I-V、C-V、光信號、RF、1/f噪聲等進行特性分 析，是一款綜合型多功能半自動探針臺，并可根據(jù)需要，進行客制化技術指標設定，匹配客戶通用設備要求。