直接在SEM工作臺上安裝，操作簡單，超級穩(wěn)定；為最大的接樣品傾斜靈活度和最短的工作距離而設(shè)計(jì)；提供一種靜精巧設(shè)計(jì)，可滿足各類SEM，拉曼和光學(xué)顯微鏡，以及 各類束線等。作為新一代專門的原位納米力學(xué)測試儀器，為SEM中使用而設(shè)計(jì)但同時可適用于其他多種平臺和環(huán)境 中。

獨(dú)有為TEM設(shè)計(jì)的完美的深度傳感壓頭；測試模式包含壓入、壓縮、拉伸、彎曲和劃痕；特別為主流TEM型號（FEI,Hitachi,JEOL,Zeiss）而設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)完美互動。此外，通過視頻接口，可以實(shí)現(xiàn)載荷-位移曲線與對應(yīng)透射電鏡視頻在時序上的完全同步。除成像外，選 區(qū)衍射可以用來判斷樣品取向和加載方向。使用三種層級的壓頭定位和力學(xué)測試。

納米壓痕的形變實(shí)時觀測：旨在精準(zhǔn)定位，進(jìn)行硬度、 彈 性 模 量的試驗(yàn)，同時觀測材料變形過程。納米壓痕與EBSD（電子背 散射衍射）結(jié)合：與這一高空間分辨技術(shù)的結(jié)合可對金屬和合金采的全微區(qū)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征。通過測量單顆晶粒的硬度和模量，結(jié)合到EBSD圖譜來關(guān)聯(lián)取向與力學(xué)性能關(guān)系。微柱和顆粒的壓縮：觀察壓縮對材料內(nèi)位錯的影響以測量屈服強(qiáng)度，來幫助預(yù)測村料性能，通過SEM或TEM圖像確認(rèn)壓頭準(zhǔn)確對中和試驗(yàn)測量，獲取納米和微米顆粒的尺寸與強(qiáng)度關(guān)系的定量數(shù)據(jù)，為其將來在工程材料中作為構(gòu)件使用提供依據(jù)。