ContourGT-X 是實驗室研發(fā)和工業(yè)生產均可適用的高性能儀器。它積累了前十代產品在白光干涉技術上的創(chuàng)新，實現(xiàn)了快速地三維表面測量，從納米級表面粗糙度測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達亞納米級。可編程的 XYZ 控制和獨特的掃描頭自動控制，使得儀器測試空間極大的拓展，多種自動化功能，使操作使用簡便易行。配備的 Vision64 軟件，具有業(yè)界超強的數(shù)據分析功能，其優(yōu)化設計的用戶界面為使用者自行定義測量和數(shù)據分析提供了極大的便利。內部激光自校準獨有技術可以自動校準因環(huán)境或機械不穩(wěn)定產生的漂移，無需標準塊，減少使用成本保證測試的精準度。

廣泛應用于半導體材料表面粗糙度、陶瓷基板的翹曲度、激光刻蝕痕跡、BUMP 三維結構、MEMS 器件關鍵尺寸、TSV 孔尺寸和精密機械加工部件等領域的測量。