HORIBA歐洲總部 自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家，其分支機(jī)構(gòu)遍布全球?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測(cè)器，CCD檢測(cè)器等）。 目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵 OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！

 成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國(guó)首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來(lái)的一貫宗旨――高品質(zhì)，使公司一直處于世界光柵及光譜儀生產(chǎn)的領(lǐng)軍地位，并不斷的創(chuàng)造著世界率先：      

 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量?jī)x      
 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 1968年 商品化全息光柵      
 1973年 相差校正全息光柵（榮獲IR100獎(jiǎng)）      
 1977年 拉曼分子顯微探針（IR100獎(jiǎng)），順序掃描型ICP光譜儀    
 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 1983年 離子刻蝕 閃耀 全息光柵    
 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 1996年 榮獲法國(guó)CNRSZ佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀（獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng)）    
 1998-1996年 收購(gòu)美國(guó)知名品牌SPEX、法國(guó)Dilor和法國(guó)Sofie儀器公司    
 2001年 獲得美國(guó)宇航局（NASA）頒發(fā) 宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)    
 2002年 世界首臺(tái)FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀，在Pittcon展會(huì)獲得EditorZ佳新品獎(jiǎng)  
 2002-2003年 收購(gòu)德國(guó)Philips橢偏儀公司和IBH（英格蘭）公司    
 2006年 美國(guó)宇航局（NASA）噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā) 運(yùn)行碳觀測(cè)器（OCO）衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)    
   
HORIBA歐洲總部
    自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家，其分支機(jī)構(gòu)遍布全球。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測(cè)器，CCD檢測(cè)器等）。          
    目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵 OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！ 

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SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。

SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

產(chǎn)品特點(diǎn)

 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù) 粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

 寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍 樣品濃度可達(dá)40%

 自動(dòng)滴定儀 可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定

 軟件操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，一鍵測(cè)量

 雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90 和173 ）

 采用微量樣品池

技術(shù)參數(shù)

粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10 m

粒徑測(cè)量精度： 2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）

Zeta 電位測(cè)量原理：激光多普勒電泳法

Zeta 電位測(cè)量范圍：-500 mV ～ +500 mV

分子量測(cè)量原理：Debye plot

分子量測(cè)量范圍：1000 ～ 2 107 Da

測(cè)量角度：90 和173 （可自動(dòng)或手動(dòng)選擇）

樣品量：12 L ～ 1000 L