Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學顯微鏡
長沙科美分析儀器有限公司
價格：面議
生產地：日本品牌：
型號：公司傳真：0731-82222302
移動電話：0731-82222145更新時間：2018-03-20
液相色譜儀;氣相色譜儀;氣相色譜質譜聯(lián)用儀;液相色譜質譜聯(lián)用儀;蒸發(fā)光散射檢測器;離子色譜儀;液相色譜進樣閥;液相色譜柱;液相色譜配件;固相萃取;頂空進樣器;原子吸收分光光度計;付里葉變換紅外光譜儀;紫外可見分關光度計
Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學顯微鏡XE-NSOM –用于各種光學應用的完備的AFM 系統(tǒng)XE-NSOM是Park Systems專為高級光學研究而精心設計的一款專業(yè)產品，該儀器具備近場掃描光學顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 為此類光學實驗提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測系統(tǒng)。技術參數(shù)(機械部分)：1. XY掃描器：100μm×100μm（閉環(huán)）2. Z掃描器：12μm (可選配25μm)3. 水平度：100μm線掃描垂直偏差不超過2nm4. 樣品臺移動范圍：4mm（X/Y），27.5mm (Z)5. 成像方法： AFM, NSOM6. 光學觀察：垂直光路設計，可直接觀察微懸臂和樣品技術參數(shù)(NSOM部分)... [詳細介紹]