IFS2 光學(xué)系統(tǒng)通用干涉儀 努美（北京）科技有限公司

價(jià)格：面議

生產(chǎn)地：日本品牌：日本 西格瑪光機(jī)SIGMAKOKI

型號(hào)：IFS2公司傳真：010-8011 5555-522977

更新時(shí)間：2018-09-07

機(jī)載高光譜光譜儀，無(wú)人機(jī)高光譜成像儀，高光譜成像光譜儀，機(jī)載高光譜相機(jī)，成像光譜儀，地物光譜儀，傅立葉變換熱紅外光譜輻射儀，光學(xué)平臺(tái)和主動(dòng)除振系統(tǒng)，氙燈光源，高品質(zhì)濾光片

努美（北京）科技有限公司(NMERRY TECHNOLOGY CO.,LTD.)成立于2013年。主營(yíng)產(chǎn)品涵蓋光電儀器、精密機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體的科技企業(yè)。在全國(guó)的大學(xué)、科研機(jī)構(gòu)、高新技術(shù)企業(yè)均有我們提供的高端科研儀器設(shè)備。

努美科技作為中國(guó)的高端光電儀器和實(shí)驗(yàn)室配套設(shè)備制造商與進(jìn)口品牌代理商，致力于把歐美等國(guó)的光電產(chǎn)品帶給中國(guó)每個(gè)科研工作者、每個(gè)科學(xué)實(shí)驗(yàn)室、每個(gè)科學(xué)研究機(jī)構(gòu)而努力。

制造產(chǎn)品：光學(xué)平臺(tái)、積分球系統(tǒng)、均勻光源、光譜測(cè)量系統(tǒng)等。

代理產(chǎn)品：HySpex高光譜成像儀、labsphere藍(lán)菲光學(xué)積分球系統(tǒng)、TMC光學(xué)平臺(tái)、Otsuka超快光纖光譜儀、SVC地物光譜儀、HORIBA Jobin Yvon光柵光譜儀、Avantes光纖光譜儀、Lambert時(shí)間分辨像增強(qiáng)相機(jī)ICCD、D P傅立葉變換熱紅外光譜輻射儀、ISDC黑體、Alluxa濾光片、Spectrogon濾光片、ASAHI-SPECTRA濾光片、Semrock濾光片、Andover濾光片、Barr濾光片、SIGMAKOKI光機(jī)械等光電產(chǎn)品。

我們本著 精誠(chéng)致業(yè)、誠(chéng)信為本、追求卓越 的宗旨，崇尚 人文情懷 的管理思想，博眾之長(zhǎng)、補(bǔ)己之短使公司更加完善，并圍繞客戶(hù)的需求持續(xù)創(chuàng)新為客戶(hù)創(chuàng)造最大價(jià)值。

我們以專(zhuān)業(yè)和創(chuàng)新的理念在高校、科研、企業(yè)都擁有豐富的項(xiàng)目實(shí)施經(jīng)驗(yàn)，已完成全國(guó)多個(gè)國(guó)家重點(diǎn)課題項(xiàng)目，為客戶(hù)提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。

努美(北京)科技有限公司代理日本西格瑪光機(jī)全系列產(chǎn)品

 

光學(xué)系統(tǒng)通用干涉儀指南

從零開(kāi)始挑選光學(xué)元件，支架，底座等組建一套光學(xué)實(shí)驗(yàn)裝置，即使是經(jīng)驗(yàn)豐富的專(zhuān)家也是一件相當(dāng)費(fèi)力的事情。

如果是一個(gè)光學(xué)系的初學(xué)者，很可能不知道從何下手，甚至?xí)肿銦o(wú)措了。
為了幫助初學(xué)者，和節(jié)省專(zhuān)家們的寶貴時(shí)間，我們可提供整套干涉儀或紋影法光學(xué)干涉系統(tǒng)的套件。
該套件可被用作初學(xué)者的入門(mén)教材，或構(gòu)建光學(xué)系統(tǒng)的參考，也可作為實(shí)驗(yàn)原理驗(yàn)證，或產(chǎn)品化試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)裝置。

常見(jiàn)于學(xué)校，用于教學(xué)現(xiàn)場(chǎng)的各種干涉儀，一般可以自由地改變其模塊的組合排列，構(gòu)建各種各樣的干涉儀。此類(lèi)干涉儀也可用于一般的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，是光學(xué)實(shí)習(xí)的必需品

Optosigma的特點(diǎn)

通常，我們不容易直接觀測(cè)到1微米量級(jí)的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象的，此時(shí)，我們會(huì)選擇光學(xué)干涉儀進(jìn)行觀測(cè)。

例如，測(cè)量光學(xué)鏡頭的面精度的干涉儀，精密測(cè)量距離或位移的測(cè)長(zhǎng)儀，需要精密測(cè)量位移變化的速度計(jì)或振動(dòng)儀等，都是利用了光學(xué)干涉原理的典型儀器。

干涉儀的特點(diǎn)：

分辨率小于1微米非接觸（非破壞）測(cè)量面（2維）測(cè)量

干涉儀的應(yīng)用案例：

面精度測(cè)量測(cè)長(zhǎng)儀速度計(jì)／振動(dòng)儀

市場(chǎng)上銷(xiāo)售的大部分干涉測(cè)量裝置是由光學(xué)干涉部分和信號(hào)解析部分組成的。
采用先進(jìn)的電信號(hào)處理技術(shù)，可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)高分辨率和很寬的測(cè)量范圍。
但是，我們這里介紹的光學(xué)干涉裝置，并不包含干涉條紋的電信號(hào)處理內(nèi)容，我們重點(diǎn)介紹了其光學(xué)部分。因此，雖然其可觀測(cè)的范圍有限，但足以進(jìn)行干涉計(jì)測(cè)的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)和理論驗(yàn)證。
干涉技術(shù)并不僅僅限于干涉計(jì)測(cè)，它在很多領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。此處介紹的內(nèi)容也可作為其基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)的有益參考。

使用了干涉原理的應(yīng)用例

外差干涉儀 (Heterodyne interferometer)激光陀螺 (Laser gyroscope)光學(xué)相干斷層掃描儀 (Optical Coherence Tomography)時(shí)間分辨干涉法 (Time-resolved interferometer)全息技術(shù) (Holography)

原理

把象激光這樣的周期很規(guī)則的光分成2束后重新合成到一起就會(huì)觀測(cè)到干涉現(xiàn)象。

這是一種波的疊加，它會(huì)出現(xiàn)波峰和波峰，或波谷和波谷的重疊，而導(dǎo)致周期性的明暗條紋。
這個(gè)干涉條紋，實(shí)際顯示的是兩束光的光程差。條紋的周期反映了一個(gè)波長(zhǎng)長(zhǎng)度（折返光路是其1半）的相位差。但是，不能根據(jù)干涉條紋識(shí)別波長(zhǎng)整倍數(shù)部分的差異，所以實(shí)際觀測(cè)到的是小于波長(zhǎng)整倍數(shù)部分的相位差，或連續(xù)的相位變化。

選用He-Ne激光作為光源時(shí)，其波長(zhǎng)為632.8mm，在折返式干涉儀中，一個(gè)條紋僅相當(dāng)于約0.3微米。所以，應(yīng)用干涉原理，可以測(cè)量微小的位移，或變形。

干涉儀的感度好，容易得到高精度的測(cè)量結(jié)果。但同時(shí)，也容易受到振動(dòng)，或空氣擾動(dòng)等的影響。因此，干涉實(shí)驗(yàn)裝置通常會(huì)設(shè)置在防振平臺(tái)上，并置于暗室之中的。

用干涉儀測(cè)量面精度時(shí)，在光路的一側(cè)放置被測(cè)樣品，讓被測(cè)面的反射波面和另一個(gè)來(lái)自基準(zhǔn)面的波面疊加。

這樣，我就會(huì)得到一個(gè)反映了被測(cè)面形狀的彎曲的干涉條紋。

我們可從此干涉條紋的彎曲程度推測(cè)出被測(cè)面的面精度。

 

光學(xué)系統(tǒng)通用干涉儀的種類(lèi)

邁克爾遜干涉儀 IFS2-MI-25

這是測(cè)試樣品面精度的，常用的干涉儀之一。利用反射鏡的2個(gè)垂直光路構(gòu)造是其大的特點(diǎn)。
干涉條紋反映了2個(gè)反射鏡鏡面形狀的差異。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù) 量

光軸高度〔mm〕

激光組件

IFC2-L

1

171

空間濾波器組件

IFC2-SF

1

165

準(zhǔn)直鏡組件

IFC2-CL

1

160

反射鏡組件

IFC2-M

2

173

半透半反鏡組件

IFC2-BS

1

178

屏幕組件

IFC2-SC

1

222.5

 

馬赫曾德干涉儀 IFS2-MZ-25

分束后的光束，經(jīng)過(guò)不同的路徑，用另外一個(gè)半透半反鏡重新合束而成的干涉儀。它沒(méi)有采用反射往復(fù)光路，是一種光束僅通過(guò)樣品一次的單程干涉儀。 因此，其讀數(shù)值是邁克爾遜干涉儀或斐索干涉儀的2倍。常被用于測(cè)試某樣品的透過(guò)波面。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù) 量

光軸高度〔mm〕

激光組件

IFC2-L

1

171

空間濾波器組件

IFC2-SF

1

165

準(zhǔn)直鏡組件

IFC2-CL

1

160

反射鏡組件

IFC2-M

2

173

半透半反鏡組件

IFC2-BS

2

178

屏幕組件

IFC2-SC

1

222.5

 

斐索干涉儀 IFS2-FZ-25

斐索干涉儀構(gòu)造相對(duì)簡(jiǎn)單，干涉光路短。
與前述的2種干涉儀相比，受振動(dòng)或溫度變化的影響較小，工作更穩(wěn)定。
常被用于測(cè)量反射表面的面精度。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù) 量

光軸高度〔mm〕

激光組件

IFC2-L

1

171

空間濾波器組件

IFC2-SF

1

165

準(zhǔn)直鏡組件

IFC2-CL

1

160

反射鏡組件

IFC2-M

1

173

半透半反鏡組件

IFC2-BS

2

178

屏幕組件

IFC2-SC

1

222.5

 

攝像組件 IFS2-CMR

把屏幕組件更換為成像透鏡組件和攝像頭組件，就可以直接把干涉條紋讀入計(jì)算機(jī)。
在選購(gòu)前，請(qǐng)一定注意確認(rèn)攝像頭的焦點(diǎn)位置和可攝像范圍。
另外，USB攝像頭的感度很高，直接入射激光的話(huà)會(huì)發(fā)生飽和。
這時(shí)請(qǐng)?jiān)诩す馄鱾?cè)加裝調(diào)整光強(qiáng)的偏光濾光片，或在攝像頭前加裝中性濾光片。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù) 量

光軸高度〔mm〕

偏光濾光片組件

IFC2-PF

1

175

成像透鏡組件

IFC2-KL

1

178

濾光片組件

IFC2-AF

1

171

攝像頭組件

IFC2-UC2

1

179.5

 

紋影法 SRS

紋影法可以定性地觀測(cè)空氣流動(dòng)，或玻璃內(nèi)部的光學(xué)不均勻性（紋理）。
它可以通過(guò)透過(guò)光強(qiáng)的分布，檢查出無(wú)法用肉眼直接觀察到的折射率的微小差異。
可以使用攝像頭把紋影法所成圖像讀入計(jì)算機(jī)分析處理。

 

 

噴射氣流的觀測(cè)

使用白色光源，容易得到較少噪聲的，沒(méi)有衍射的干涉條紋。白色光源的光量相對(duì)較小，推薦在暗室內(nèi)觀測(cè)投影圖。改變成像透鏡的焦距，或改變樣品，透鏡，攝像頭的相對(duì)位置，可改變觀測(cè)范圍。選型時(shí)請(qǐng)注意確認(rèn)所要求的觀測(cè)范圍。光束有效口徑 27mm?

?

 

品 名

型 號(hào)

數(shù) 量

光軸高度〔mm〕

白色光源組件

SRS-WL

1

171

可變光闌組件

IFC2-IR

1

169.5

準(zhǔn)直鏡 組件

IFC2-CL

2

160

反射鏡 組件

IFC2-M

2

173

窄縫 組件

SRS-SL

1

170

成像透鏡 組件

IFC2-KL

1

178

攝像頭 組件

IFC2-UC2

1

179.5

 

干涉儀組件

 

激光組件 IFC2-L

干涉性好，輸出穩(wěn)定的直線偏光。
波長(zhǎng)：632. 8nm，功率：1mW

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

氦氖激光器

05-LHP-111

1

-

氦氖激光電源

05-LPL-911-065

1

-

氦氖激光支持架

LAH-1

1

71

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-20-80

1

80

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

171

 

空間濾波器組件 IFC2-SF

經(jīng)物鏡匯聚的光束穿過(guò)針孔，形成一束畸變較小的發(fā)散的高斯光束。
可以除去附著在激光器上的灰塵或反射鏡面等引起的波面畸變，得到更理想的球面波。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

空間濾波器

SFB-16RO-OBL20-25

1

65

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-20-80

1

80

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

165

 

準(zhǔn)直鏡組件 IFC2-CL

把來(lái)自空間濾波器的發(fā)散光束準(zhǔn)直為平行光束。
它不包含平臺(tái)，焦點(diǎn)距離為300mm。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

消色差雙膠合透鏡

DLB-30-300PM

1

-

2維可調(diào)鏡架

LHCM-30

1

60

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-80

1

80

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

160

 

反射鏡組件 IFC2-M

使用了高面精度的鋁膜全反射鏡，容易得到較直的干涉條紋。
內(nèi)含一個(gè)平臺(tái)，便于光軸調(diào)整或進(jìn)行干涉條紋的相位調(diào)整實(shí)驗(yàn)。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

鋁膜反射鏡

TFA-50C08-20

1

-

NOMI LOCKTM式可調(diào)鏡架

MHG-MP50-NL

1

35

立柱

RO-20-80

1

40

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-20-60

1

60

X軸TSD直動(dòng)平臺(tái)

TSD-601S

1

18

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

173

 

半透半反鏡組件 IFC2-BS

透過(guò)光和反射光的分光比為1：1，損失很小的平板型電介質(zhì)膜半透半反鏡。
內(nèi)置一個(gè)平臺(tái)，便于光軸調(diào)整。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

超寬帶激光譜線平板半反射鏡

PSMH-50C08-10W-550

1

-

萬(wàn)向式鏡架

MHAN-50S

1

90

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-20-50

1

50

X軸TSD直動(dòng)平臺(tái)

TSD-601S

1

18

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

178

 

屏幕組件 IFC2-SC

用于投影干涉條紋的200mm邊長(zhǎng)的方形白板。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

遮光板

BBP-200

1

100

方形光學(xué)件支架

KMH-80

1

42.5

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-60

1

60

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

222.5

 

成像透鏡組件 IFC2-KL

將干涉條紋的圖像成像到攝像頭的成像透鏡。
焦點(diǎn)距離：50mm
有效徑 25mm全部成像時(shí)的光路參數(shù)為
樣品到成像鏡的距離：400mm
成像鏡到攝像頭的距離：57.13mm
在選購(gòu)時(shí)，一定注意確認(rèn)觀測(cè)范圍。
內(nèi)置一個(gè)平臺(tái)，便于焦距調(diào)整。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

平凸透鏡-BK7

SLB-30-50PM

1

-

2維可調(diào)鏡架

LHCM-30

1

60

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-80

1

80

X軸TSD直動(dòng)平臺(tái)

TSD-601S

1

18

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

178

 

攝像頭組件 IFC2-UC

USB攝像頭使用USB電纜和計(jì)算機(jī)連接后，可簡(jiǎn)單地把圖像讀入計(jì)算機(jī)。
內(nèi)置XY軸平臺(tái)，便于焦點(diǎn)和圖像位置的調(diào)整。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

USB攝像頭

STC-MCA5MUSB3

1

14

攝像頭調(diào)整件

STC-TP-HCA

1

6.5

USB3.0電纜

STC-NU3MBASU3B-3.5

1

-

立柱

ROU-12-80

1

40

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-60

1

60

TAS-2060用上板

SP-127-1

1

7

XY軸TSD直動(dòng)平臺(tái)

TSD-602S

1

32

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

179.5

 

濾光片組件 IFC2-AF

如果把激光束直接入射到攝像頭，很容易引起攝像頭的（飽和）。
這是一片1%透過(guò)率的中性濾光片，常被置于攝像頭之前。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

吸收型中性濾光片（無(wú)框）

AND-20C-01

1

-

固定式鏡架

LHF-20

1

-

十字固定架

CCHN-12-12

1

14

立桿

PO-12-150

1

102

磁力表座

MB-CB-PB

1

55

組件光軸高度

171

 

光路終端組件 IFC2-BD

半透半反鏡的底面反射，或干涉儀內(nèi)部的其他多重反射等雜散光，常會(huì)跑到實(shí)驗(yàn)臺(tái)之外的地方。此組件可以安全地阻斷這些雜散光的光路。使用的是吸收型的中性濾光片，所以，也可以作為普通的濾光片使用。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

吸收型中性濾光片（無(wú)框）

AND-50S-01

1

-

CS式濾光片支架

FHS-50

1

70

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-80

1

80

磁力表座

MB-L65C-M4

1

20

組件光軸高度

170

 

偏光濾光片組件 IFC2-PF

在調(diào)整光軸或圖像質(zhì)量時(shí)，常常需要連續(xù)調(diào)整光量的。此組件可實(shí)現(xiàn)激光束的光量的連續(xù)調(diào)整。如果同時(shí)使用2套的話(huà)，甚至可把光量調(diào)到接近于零。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

高分子薄膜偏光板

SPF-30C-32

1

-

偏光器支架

PH-30-ARS

1

60

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-60

1

60

磁力表座

MB-CB-PB

1

55

組件光軸高度

175

 

可變光闌組件 IFC2-IR

可以把光束遮擋為圓形，或遮擋掉不需要的光線。
也可以被用作光軸調(diào)整的基準(zhǔn)孔。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

可變光闌支架

IH-30

1

54.5

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-60

1

60

磁力表座

MB-CB-PB

1

55

組件光軸高度

169.5

 

窄縫組件 SRS-SL

在紋影法中，將其放在透過(guò)樣品后的光束焦點(diǎn)處，調(diào)整其位置或窄縫寬度，可以改善影像的對(duì)比度。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

可調(diào)式XY窄縫

PSL-0

1

55

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-60

1

60

磁力表座

MB-CB-PB

1

55

組件光軸高度

170

 

調(diào)整透鏡組件 IFC2-AL

用于干涉條紋的調(diào)整，可方便地實(shí)現(xiàn)2個(gè)光束的平行重疊。
調(diào)整完畢后，將其從光路中取出。
焦點(diǎn)距離：300mm

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

平凸透鏡-BK7

SLB-30-300PM

1

-

固定式鏡架

LHF-30

1

55

高穩(wěn)定立柱用支架

BRS-12-60

1

60

磁力表座

MB-CB-PB

1

55

組件光軸高度

170

 

白色光源組件 SRS-WL

用于紋影法實(shí)驗(yàn)中的白色光源。
使用光纖導(dǎo)光，光路部分不容易受到熱影響。

 

 

品 名

型 號(hào)

數(shù)量

光軸高度 [mm]

鹵鎢燈照明裝置

SHLA-150

1

-

照明用導(dǎo)光光纖

MSL-1000S-10

1

-

可調(diào)鏡架

LHA-25

1

-

十字固定架

CCHN-12-12

1

14

立桿

PO-12-150

1

102

磁力表座

MB-CB-PB

1

55

組件光軸高度

171