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首頁 > 供應(yīng)產(chǎn)品 > 半導(dǎo)體模塊全參數(shù)測試設(shè)備 半導(dǎo)體模塊全參數(shù)測試設(shè)備 點擊圖片查看原圖 產(chǎn)品： 瀏覽次數(shù)：267半導(dǎo)體模塊全參數(shù)測試設(shè)備  單價： 面議 最小起訂量： 供貨總量： 10000 發(fā)貨期限： 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨 有效期至： 長期有效 最后更新： 2019-06-13 17:49   詳細(xì)信息

EN-3020C系統(tǒng)是專為測試IGBT而設(shè)計。能夠真實準(zhǔn)確測試出IGBT與二極管的靜態(tài)參數(shù)：其測試范圍如下：

l 柵極-發(fā)射極漏電流測試單元              VGES、IGES

l 柵極-發(fā)射極閾值電壓測試單元            Vge（th）

l 門極-發(fā)射極間電壓測試單元              VCES、ICES

l 集電極-發(fā)射極飽和電壓測試單元          Vge（sat）、IC

l 二極管壓降測試單元                    VF、IF

l 二極管反向擊穿電壓測試單元            VR、IR

l 結(jié)電容測試單元                        Cies, Coes, Cres

計算機控制系統(tǒng)

此設(shè)備的控制系統(tǒng)主要由計算機控制，計算機控制系統(tǒng)是該測試設(shè)備的中心控制單元，設(shè)備的工作程序、工作時序、開關(guān)的動作狀態(tài)，數(shù)據(jù)采集等均由計算機完成。

計算機采用聯(lián)想一體機，具有速度快、內(nèi)存大、方便攜帶等特點。

NI USB-6009是一塊多功能的數(shù)據(jù)采集卡，具有三組數(shù)據(jù)端口，8/4個模擬量輸入端口，兩個模擬量輸出口、13個數(shù)字輸出口。

聯(lián)系我時請說明來自志趣網(wǎng)，謝謝!

關(guān)鍵字：IGBT測試儀