高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀 上海昊量光電設備有限公司

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移動電話：15601689581更新時間：2017-12-25

激光器調(diào)制器,激光測量加工設備,光學部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測器光子計數(shù)器,專用實驗設備,相機

上海昊量光電設備有限公司   
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注  專注成就未來

自2008年成立以來，昊量光電專注于光電領域的技術服務與產(chǎn)品經(jīng)銷，致力于引進國外Z具先進性與創(chuàng)新性的光電技術與可靠產(chǎn)品，為國內(nèi)Z前沿的科研與工業(yè)領域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務，助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前，昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家知名光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關系。其代理品牌均處于相關領域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持 專業(yè)源自專注，專注成就未來 的經(jīng)營理念。近年來，我們專注于前沿的細分市場，為量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進激光制造等領域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

作為一家以技術溝通與技術服務見長的高科技企業(yè)，我們所有的銷售與技術服務團隊成員都具有理工科方面的專業(yè)背景，并在公司接受相關領域的專業(yè)培訓，在售前技術溝通、售后產(chǎn)品安裝培訓、產(chǎn)品問題解決、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務！我們專業(yè)高效的商務與物流部門憑借多年積累的國際貿(mào)易經(jīng)驗與規(guī)范化的制度流程，保障每一筆訂貨準時安全到達目的地，免除客戶的后顧之憂！

秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀，昊量光電堅持以誠信為基石，憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值，實現(xiàn)各方共贏！

立足于光電產(chǎn)業(yè)，昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新，贏得客戶與合作伙伴的認可，不斷拓展業(yè)務領域的新邊疆，立志打造國際的代理服務品牌！

 

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

400x300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器！

 

 

關鍵詞：波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF

 

 

公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。 

 

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

 

波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術研發(fā)實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案?？筛鶕?jù)客戶的應用需求，為客戶推薦zui合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調(diào)制器、自適應光學系統(tǒng)操作軟件等。

 

 

圖1 波前校正前與校正后對比

 

波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉技術，對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。波前傳感器將400x300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結合在了一起?？梢詽M足不同的客戶的應用需求，可對激光光束進行光強、位相、PSF（點擴散函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）、OTF（光學傳遞函數(shù)）、波前像差、M^2等進行實時、簡便、快速的測量。

 

 

 

 

*部 產(chǎn)品介紹

 

 

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器

 

公司將 SID4的波前測量波長范圍擴展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學元件測量（例如印刷、半導體等等）和表面檢測（半導體晶片檢測等）。

 

特點：

u 高分辨率（250x250）

u 通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）

u 覆蓋紫外光譜

u 靈敏度高（0.5um）

u 優(yōu)化信噪比

 

 

圖2 SID4-UV波前分析儀

 

 

SID4 波前傳感器

 

 

可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強度分布，波前像差，激光的M2，澤尼克參數(shù)等進行實時的測量及參數(shù)輸出。

特點：

 波長范圍：400-1100nm

 分辨率高（160x120）

 消色差

 測量穩(wěn)定性高

 對震動不敏感

 操作簡單

 結構緊湊，體積小

 可用筆記本電腦控制

 

 

 

圖3 SID4位相檢測

 

 

可用于檢測各種透鏡，光學系統(tǒng)的檢測，可以對透鏡、光學系統(tǒng)的進行實時的PSF（點擴散函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）、OTF（光學傳遞函數(shù)）、波前像差測量及參數(shù)輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設備像：傳函儀、干涉儀，具有操作簡便，測量精度高，參數(shù)輸出方便等優(yōu)點，正在被越來越多的客戶推崇。

 

 

 

特點：

u 波長范圍：400-1100nm

u 高性能的相機，信噪比高

u 實時測量，立即給出整個物體表面的信息（120000個測量點）

u 曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量

u 操作簡單

 

 

 

圖4 SID4-HR

 

 

圖5 SID4-HR傳遞函數(shù)檢測

 

 

 

SID4 NIR 波前分析儀

 

 

主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光的檢測，具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢?？捎糜诠鈱W測量，SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質(zhì)量的理想工具。

 

特點：

 高分辨率（160x120） 

 快速測量 

 性價比高

 絕對測量

 對振動不敏感

 

 

 

圖6 SID4 NIR激光波前檢測

 

 

SID4 DWIR 波前儀

 

 

具有寬波段測量的特點?？梢詫崟r的檢測3-5um和8-14um的波前位相，強度分布等響應的波前信息?？梢院芎玫臐M足紅外波段客戶的波前檢測需求。

 

特點：

u 光學測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質(zhì)量和透鏡焦距。

u 光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數(shù)：像差，M2，光強分布，光束特性等

u 高分辨率（96x72）

u 可實現(xiàn)絕對測量

u 可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數(shù)值孔徑測量，無需額外中轉透鏡

u 快速測量 對振動不敏感

u 可實現(xiàn)離軸測量

u 性價比高

 

 

 

 

 

圖7SID4 DWIR

 

 

 

 

SID4產(chǎn)品型號參數(shù)匯總

 

 

型號

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

孔徑尺寸（mm2）

3.6 x4.8

8.9 x11.8

8.0 x8.0

3.6x4.8

13.44x10.08

9.6x7.68

空間分辨率(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

測量點數(shù)

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80x64

波長范圍

350-1100 nm

350-1100 nm

190-400 nm

1.5-1.6 m

3-5 m 8-14 m

0.9- 1.7 m

精準度

10nm RMS

10nm RMS

10nm RMS

15nm RMS

75nm RMS

10nm RMS

動態(tài)范圍

100 m

500 m

200um

100 m

/

~100 m

采樣速度

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60fps

處理速度

10fps

3 fps

1fps

10fps

20 Hz

10Hz

 

 

 

 

 

第二部 控制軟件

 

 

SID4波前分析儀控制軟件

 

 

SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件，其集成了高分辨率的相位圖與強度分布圖，測量光強分布和波前信息。

 

 

借助Labview和C++ 可編程模塊數(shù)據(jù)庫（軟件二次開發(fā)工具包），客戶能夠根據(jù)自身的需要編寫各種相位測量與編譯模塊。

 

 

Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結合您的應用，選配合適的可變形鏡或相位調(diào)制器，提供整套的自適應光學系統(tǒng)。減小任何一個光學系統(tǒng)的相差從來都不是簡單的，我們的產(chǎn)品能為激光光束和成像系統(tǒng)帶來更可靠，高精度的解決方案。

 

 

 

圖8 SID4控制界面

 

 

SID4光學測量軟件Kaleo

 

基于剪切干涉的波前傳感器與專門設計的光學測量軟件Kaleo結合，可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘，我們的儀器為您呈現(xiàn)絕大部分的光學參數(shù)，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系數(shù)，曲率半徑，PSF等。

 

 

 

 

第三部 與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較

 

 

 

與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結果對比：

 

 

 

 

 

 

技術參數(shù)對比：

 

 

 

PHASICS

Shack-Hartmann

區(qū)別

技術

剪切干涉

微透鏡陣列

PHASICS投放市場時，已經(jīng)申請技術，是對夏克-哈特曼技術的升級

重建方式

傅里葉變換

分區(qū)或模式法

夏克-哈特曼波前探測器，局域導數(shù)以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似，誤差大

強度

對強度變化不敏感

對強度變化靈敏

PHASICS測量精度高，波前測量不依賴于強度水平

校準

用針孔校準、方便快捷

安裝困難，需要精密的調(diào)節(jié)臺

PHASICS使用方便

取樣點

SID4-HR達300x400測量點

128X128測量點（多個微透鏡）

PHASICS具有更高的分辨率

數(shù)值孔徑

NA：0.5

NA：0.1

PHASICS動態(tài)范圍更高

分辨率

29.6 m

115 m

PHASICS具有更高的空間分辨率

測量精度

2nm RMS

5nm RMS

PHASICS更好的測量精度

獲取頻率

60fps

30fps

PHASICS獲取速度快

處理頻率

10Hz

30Hz

PHASICS可滿足大部分處理要求

消色差

無需對每個波長進行校準

需要在每個波長處校正

PHASICS更靈活，可以測試寬波段，而不需要校準

 

 

 

 

第四部 應用領域

 

 

 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統(tǒng)波前像差檢測

 激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測

 紅外、近紅外探測

 平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào)

 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領域

 球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)

 虹膜定位像差引導

 大口徑高精度光學元器件檢測

 激光通信領域

 航空航天領域